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            日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列

            日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列

            產(chǎn)品型號:

            所屬分類:超聲波測厚儀

            產(chǎn)品時間:2024-09-09

            簡要描述:日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列
            使用軟X射線(軟X射線)的厚度計(膜厚度計)。以非接觸方式(軟X射線)測量薄片和板狀物體的厚度和密度(基本重量)。通過直接與參考物質(zhì)比較來計算厚度和密度(基本重量),而不是直接測量厚度。

            詳細(xì)說明:

            日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列

            使用軟X射線(軟X射線)的厚度計(膜厚度計)。以非接觸方式(軟X射線)測量薄片和板狀物體的厚度和密度(基本重量)。通過直接與參考物質(zhì)比較來計算厚度和密度(基本重量),而不是直接測量厚度。
             通常,為了測量片材的寬度方向上的厚度分布,檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶并進(jìn)行測量。通常使用激光位移計作為不接觸地測量厚度的手段,但是如果將激光位移計安裝在掃描儀上,則其傳送的精度遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于激光位移計的精度,從而導(dǎo)致結(jié)果。高精度測量是困難的。
             另一方面,在諸如X射線厚度計之類的通過透射衰減來估計厚度的方法中,測量了空氣層-樣品-空氣層與透射之間的衰減,但是由于樣品引起的衰減很大。比空氣的厚度大,運輸?shù)挠绊憙H表現(xiàn)為空氣層厚度的變化,并且影響很小。因此,可以高精度地進(jìn)行測量。

            軟X射線測厚儀的一般功能

            1. 無需任命放射線處理負(fù)責(zé)人或X射線工作負(fù)責(zé)人,也無需設(shè)置受控區(qū)域
              (需要通知nao工標(biāo)準(zhǔn)檢查辦公室)
            2. 路徑錯誤可以忽略
            3. 高元素依賴性

            與傳統(tǒng)的軟X射線測厚儀相比,我們的軟X射線測厚儀的功能

            1. 檢測單元和X射線源單元結(jié)構(gòu)緊湊,重量輕,甚至可以安裝在狹窄的地方。
            2. 測量范圍廣(材料/厚度)

            采用

            • 銅箔,鋁箔,不銹鋼箔
            • 電池電極
            • 陶瓷(薄板,薄餅)
            • 玻璃纖維布

            日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列

            X射線測厚儀SX-1100

            X射線測厚儀SX-1100的規(guī)格
             
            物品規(guī)格
            姓名X射線測厚儀SX-1100
            測量方法X射線透射法
            檢測方式閃爍檢測器方法
            被測物根據(jù)測量目標(biāo)(如薄膜和箔紙)的z佳設(shè)計
            測量間距標(biāo)準(zhǔn)2mm(可提供更細(xì)的間距)
            掃描寬度標(biāo)準(zhǔn)150-3000mm(也可提供其他寬度)
            掃描速度15-300毫米/秒(標(biāo)準(zhǔn))
            框架結(jié)構(gòu)O型等各種鏡框
            光斑尺寸約φ7.5mm(標(biāo)準(zhǔn))(工作時)
            X射線源70 x 83毫米x 250毫米(標(biāo)準(zhǔn))
            檢測單元70 x 83毫米x 220毫米(標(biāo)準(zhǔn))
            電源100V單相1kVA
            ?     


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