日本電測(cè)densoku熒光X射線膜測(cè)厚儀EX-731

產(chǎn)品型號(hào)：

所屬分類：物理性能檢測(cè)儀

產(chǎn)品時(shí)間：2024-09-06

簡(jiǎn)要描述：日本電測(cè)densoku熒光X射線膜測(cè)厚儀EX-731
極小面積的高精度測(cè)量和出色的可操作性
大尺寸基板的測(cè)量
?通過(guò)使用雙重過(guò)濾器以gao精度和jia佳條件進(jìn)行
測(cè)量
?通過(guò)將鼠標(biāo)對(duì)準(zhǔn)測(cè)量位置來(lái)快速對(duì)準(zhǔn)?多任務(wù)功能甚至在測(cè)量過(guò)程中也可以創(chuàng)建報(bào)告等其他處理
?小準(zhǔn)直儀可以測(cè)量直徑為0.05毫米的極小零件

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日本電測(cè)densoku熒光X射線膜測(cè)厚儀EX-731

熒光X射線膜測(cè)厚儀EX-731的特點(diǎn)

采用雙重過(guò)濾器

通過(guò)使用除數(shù)值濾波器以外的機(jī)械濾波器（雙重濾波器），可以在jia條件下進(jìn)行測(cè)量，從而始終獲得gao的精度。

自動(dòng)測(cè)量階段

通過(guò)將鼠標(biāo)對(duì)準(zhǔn)測(cè)量位置來(lái)實(shí)現(xiàn)快速對(duì)準(zhǔn)。如果注冊(cè)測(cè)量位置，則可以進(jìn)行連續(xù)自動(dòng)測(cè)量。坐標(biāo)校正和通道鏈接支持各種模式。標(biāo)準(zhǔn)板校準(zhǔn)也可以自動(dòng)測(cè)量。

完整的報(bào)告創(chuàng)建功能

通過(guò)采用MS-Windows軟件，可以輕松捕獲測(cè)量屏幕，并增強(qiáng)報(bào)告創(chuàng)建功能。使用多任務(wù)功能，即使在測(cè)量期間也可以進(jìn)行包括報(bào)告創(chuàng)建在內(nèi)的其他處理。

5種準(zhǔn)直儀

小準(zhǔn)直儀為0.1φmm，可以測(cè)量極小的零件。標(biāo)準(zhǔn)，0.1、0.2、0.5、1.0、2.0
另外，有兩種特殊規(guī)格可供選擇。
? 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
? 0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5

自診斷功能和X射線管維護(hù)功能

使用自診斷功能，可以迅速解決設(shè)備故障。此外，增加了顯示X射線管使用時(shí)間和使用壽命的功能，以支持維護(hù)安全。

膜厚測(cè)量中的頻譜顯示

通過(guò)多通道進(jìn)行光譜分析高速處理使顯示被測(cè)物的光譜變得容易。（處理速度約2-3秒）

在測(cè)量部分顯示監(jiān)控圖像

在Windows屏幕上捕獲X射線照射單元并顯示X射線照射單元。準(zhǔn)直儀提供了改變尺寸的放大倍率功能。

可視顯示測(cè)量對(duì)象的鍍層附著力分布

三維圖形顯示可輕松查看測(cè)量對(duì)象的鍍層厚度分布。

Be 窗口X射線管（選件）提高的性能（高精度）

我們已經(jīng)為熒光X射線膠片厚度計(jì)準(zhǔn)備了Be窗口X射線管。

通過(guò)使用Be窗口X射線管，Cr測(cè)量和Ni測(cè)量的重復(fù)測(cè)量精度顯著提高。

與標(biāo)準(zhǔn)X射線管的比較

Sn等的高能量（高原子序數(shù)）測(cè)定與以前相同。

當(dāng)測(cè)量低能量（低原子序數(shù)）的Cr和Ni時(shí)，Cr的重復(fù)性提高了約3倍，Ni的重復(fù)性提高了約2倍。

當(dāng)測(cè)量?jī)蓪訒r(shí)，中間層中Ni的測(cè)量精度提高了約20％。

通過(guò)使用Be窗口X射線管，Cr的熒光X射線強(qiáng)度比常規(guī)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備的熒光X射線強(qiáng)度高大約9倍。

因此，可以在短時(shí)間內(nèi)以與以前相同的精度進(jìn)行測(cè)量。

請(qǐng)考慮使用此Be窗口X射線管。

 日本電測(cè)densoku熒光X射線膜測(cè)厚儀EX-731

熒光X射線膜厚計(jì)EX-731的規(guī)格

（注）規(guī)格如有變更，恕不另行通知。